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設備

インサーキットテスター

KEYSIGHT Medalist i1000D



民生用電子機器基板検査に最適な
汎用型インサーキット・テスト・システム



特徴


  • デジタルインサーキットテスタ(i3070廉価版)
  • 電源印加型インサーキットテスタ
  • 上位モデルi3070の廉価版
  • VTEP機能、CET機能、ビードプローブ機能を搭載
  • アナログインサーキットも対応可能。
  • 電源を印加し検査することが可能

KEYSIGHT Medalist i1000

主な仕様

  • 最大ノード数
    2240(ピン・カード:最大35枚)
    ピン・カード
    Un-mux アナログ64チャンネル/枚
    オープン/ショート・テスト
    ショート・ピン・グループの吸い上げ方式
    アナログ・インサーキット・テスト
    6線式測定
    アナログ・ガーディング・ポイント数
    10
    ベクターレス・テスト技術
    VTEP v2.0
    BGA程度までのIC/コネクタ/ソケットの足浮き検査
    VTEP
    マイクロBGAの足浮き検査
    iVTEP
    コネクタの電源/グランド・ピンの足浮き検査
    NPM(ネットワーク・パラメータ測定)
    シリアル・データ・バス・テスト
    I2C. SPIプログラミング機能
    Boundary Scanテスト
    カスタマイズ・オプション
    周波数測定
    Yes
    AC/DC電圧測定
    Yes
    ファースト・バス歩留まり(FPY)レポート
    Yes
    部品レベル・テスト・カバレッジ・レポート
    Yes
    歩留まり改善テスト
    Yes
    テスト・アクセス改善ツール
    Medalist Bead Probe技術
    パネル・テスト
    Yes
    リレー・レベル診断ツール
    Yes
    SPC品質改善ツール
    Yes


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