会社情報|設備|KEYSIGHT Medalist i3070|株式会社システム工業


治具製作設計・基板検査なら株式会社システム工業

TOP > 会社情報 > 設備 > KEYSIGHT Medalist i3070

設備

デジタル インサーキットテスター

KEYSIGHT Medalist i3070



高機能型インサーキット・テスト・システム


特徴


  • 電源印加型インサーキットテスタ
  • 全域対応デジタルインサーキットテスタ
  • アナログインサーキットも対応可能。
  • キーサイトテクノロジー技術
    ●VTEP
    ●CET
    ●ビードプローブ
    などの運用。

KEYSIGHT Medalist i3070

主な仕様

  • UnMuxピン・カード使用時
    Muxピン・カード使用時
    最大ノード 5184 5184
    最大チャンネル数 5184 1152
    ドライバ/レシーバ マルチプレクス比 1:1 パーピン 9:2 マルチプレクス
    ロジック・レベル(per channels) パーピン・プログラミング パーチャンネル・プログラミング
    ロジック・スレッショルド
    (per channels)
    単一スレッショルド・
    プログラミング
    デュアル・スレッショルド・プログラミング
    テスト・スピード
    (ベクターレート:パターン速度)
    6MPs 6MPs,12MPs,20MPs
    回路網解析 自動(IPG)
    オペレーティング・システム Windows XP Professional
    DUT電源の最大数 最大24プログラマブル電源
    周波数測定 60MHz
    アナログ・テスト Yes
    ベクター・プログラミング VCL および PCF
    ベクターレス・テスト VTEP v2.0
    高電圧テスト 100V
    低電圧テスト 0.8Vセーフガード
    バック・ドライブ電流 750mA
    部品レベル・テスト・カバレッジ・レポート Yes
    Boundary Scanテスト KEYSIGHT Boundary Scan, ScanWorks
    Flash ISP(イン・システム・プログラミング) Yes
    CPLD/FPGA ISP(イン・システム・プログラミング) Yes
    インテリジェント歩留り改善テスト Yes
    NANDツリー・プログラム生成 言語ベース
    極性チェック・ソフトウエア Yes
    SPC品質管理ツール プッシュボタン Q-Stats
    自動修理ツール Medalist リペア・ツール
    モジュラー構造(柔軟性/拡張性) 1 to 4モジュール
    デュアルウェル(2つの基板の交互テスト)およびスループット・マルチプライヤ(複数枚基板の同時テスト)対応 Yes
    治具配線タイプ ショート・ワイヤ,ワイヤレス,ロング・ワイヤ


前のページへもどる

ページの上へ