ファンクションテスト|テクノロジー|株式会社システム工業


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製品・サービス情報

ファンクションテスト - テクノロジー

汎用型オリジナルファンクションテスターHFT



社内開発・設計による一貫製作だからできる、きめ細かいご提案。

特徴

  • 2002年からのファンクションテスター開発の経験を生かし、開発された自社開発製品です。
    多様な要求に対応出来るよう、基本機能と外部機器との連携による多様性のあるシステムを目指し開発されました。
    ●コンパクトで高性能
    ●電源投入前のショートチェック機能
    ●電源のON/OFFシーケンス制御機能
    ●電源のディスチャージ機能
    ●各種測定器やJTAGシステム、LEDアナライザーなどを併せた検査の構築
    コスト・性能・汎用性に優れ、環境に合わせた検査システムをご提供いたします。




function tester hft

構成

  • HFTは治具・パソコンの組み合わせが最小構成となっています。要求機能に応じ、
    ■一般測定機器
    ■機構
    ■パソコン周辺機器
    ■各種検査規格
    ■外部検査デバイス
    の組み合わせを行い、多様且つ精度の高い検査システムの構築が可能です。
    hft構成.jpg
    ■治具
    検査基板を設置する基本構成部となります。
    インターフェイスを正面盤面に集約してあるため、オペレーティングは治具上で行います。
    お客様の検査仕様に合せたカスタマイズが可能な汎用性のある設計となっています。
    内部構成
    ■電源制御基板:電源ショートチェック機能/電源系統の制御  
    ■汎用制御基板:各種測定/一般測定器制御/各種汎用制御
    ■専用制御基板:特殊な波形・特殊なタイミング・特殊な電子回路の制御
    検査項目
    ■電源投入前の電源ライン間のショート検査
    ■検査終了後の電源ライン間のディスチャージ機能
    ■電圧測定
    ■周波数測定
    ■デジタル入出力
    ■モータ回転数、回転方向
    組み込みオプション
    ブザー
    レバーロック機能
    コネクタ半自動接続機構
    最大プローブ800本(荷重約160Kg)
    静電気対策素材
    ■PC
    専用アプリケーションにて検査シーケンスの制御を行う基部となります。
    閾値の変更、集積した検査ログの編集なども行えます。
    OS
    Windows10/8/8.1/7
    アプリケーション
    自社開発専用アプリHFT_PE
    機能
    ■検査プログラム(データ)の実行
    ■検査結果表示
    ■ログ保存
    ■PC周辺機器との連携
    PCに接続できる周辺機器との連携も行えます。
    アプリケーション上でデバイス制御を行い検査シーケンスと連動することができます。
    主に検査の集計管理などに効果を発揮します。
    バーコードリーダー
    検査基板の集計管理に効果的です。
    検査基板の管理シールを読み取り、検査を開始します。
    検査後シリアルごとに検査結果を集計します。
    プリンター
    検査毎に印字を行う必要がある場合効果的です。
    エラー時のみの印刷を行うなど検査結果による制御も可能です。
    ■一般測定機器の制御・連携
    パソコンからUSB・GPIBなどのIF制御により、各種 測定器との連携を行い自動測定を行います。
    デジタルマルチメータ
    電圧・電流測定・抵抗測定
    オシロスコープ
    起動時間や信号のレベル、パルス幅の測定
    リップルノイズメータ
    電源ラインのノイズ測定(リップルノイズや高周波ノイズ)
    電子負荷
    各条件の設定(電子負荷定電流CCモードや定抵抗CRモード)
    交流安定化電源
    AC電源の変動測定
    ■機構制御
    スイッチ、リレー、モーター制御が行えます。
    そのため外部機構部と連携し、テスト中の駆動・制御を行うことが可能。
    検査工程のタイミングや検査結果による分岐など自由度の高い制御が行えます。
    捺印ユニット
    検査基板に検査有無や合否結果を捺印するユニットです。
    各種スタンプ・マーカーに対応しています。
    緊急停止スイッチ
    テスト中緊急停止を行います。
    ■外部検査規格との連携
    外部検査規格等と連携・制御を行い、検査結果に反映させることが可能です。
    検査工程のタイミングや検査結果による分岐など自由度の高い制御が行えます。
    バウンダリスキャン検査
    IEEE規格のバウンダリスキャン検査をファンクション検査に取り込みます。
    物理的アクセスが不可能なBGAのオープン検出などに効果を発揮。
    2つの工程を1つの工程で実現することで検査の効率化が図れます。
    ツール、電源部などを組み込んだ汎用治具と検査基板ごと専用治具のユニット化による コストダウン設計も行っています。
    ■外部検査デバイスとの連携
    外部検査デバイスを制御し検出値を検査シーケンスに反映させることが可能です。
    設定した閾値を基準に合否判定を行います。
    色彩や輝度などの比較検査を行います。
    LED検査に効果を発揮します

JTAGテクノロジー



高密度化部品に効果を発揮。IEEE1149.1規格 JTAGテクノロジー

特徴

  • 3次元実装LSI・部品内蔵基板・BGA部品等、プローブによる物理アクセスが難しい部品の検査に効果を発揮します。
    FPGA、CPLD、DSP等、JTAGテスト用のロジックが内蔵された部品を対象とし、5本の信号でアクセスできます。
    ●オープン・ショート検出
    ●プルアップ/プルダウンテスト
    ●インフラストラクチャテスト
    ●メモリテスト
    ●コネクタテスト
    ●クラスタテスト
    ●PLD書き込み
    ●インターコネクトテスト
    ●メモリ書き込み
    ●スイッチテスト
    等のテストを用い、基板全体の検査を行ないます。

KEYSIGHT Medalist i1000




  • ■IEEE1149.1規格 JTAGテクノロジー
    VTEP v2.0 Powered, with Cover-Extend Technology.jpg

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    資料ご提供:アンドールシステムサポート株式会社※当社はアンドールシステムサポート株式会社のシステムインテグレーターです。

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