インサーキットテスト|検査治具作成の流れ|株式会社システム工業


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製品・サービス情報

インサーキットテスト

システム概要

インサーキット・テスト・システム

  • 当社はアナログインサーキットからデジタルインサーキットまで、幅広いメーカの治具製作・デバッグを経験してまいりました。
  • 基本機能では検証が難しい部品につきましても組み込み検査と併用し、お客様の検査仕様・予算に合わせた検査環境をご提供いたします。
  • システム概要

    ict解説1

    基板の全信号ラインをターゲットとし、実装部品の合否判定を行う検査システムです。
    基板に対して電気的に検査を行い、部品の定数間違い、コネクタやICリードのショートによる不良などをサーキット毎に検査を行います。
    目視検査では発見できない不良も確実に発見可能なツールです。
    検査部品・項目はテスターにより異なりますが、抵抗、キャパシタンス、インダクタンスなどの測定も可能です。

    検査原理

    ict解説2

    NET毎にプローブを当て、プローブ2点間のサーキット上の部品定数を読み取ります。
    プログラム上にて指定した定数・電圧・周波数・デジタル信号などが所期の動作であるかどうかで良否判定を行います。 リレーにより検査ポイントを変え、基板全体の検査を行います。
    検査項目はテスター毎に異なります。治具構造、プログラム等もテスター毎に設計します。
    また、実装基板ごとにプローブピンの位置・本数、治具構造も片面・両面、プレス・バキューム式など仕様に合わせ設計を行います。

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